Observation and manipulation of charge carrier distribution at the SiO$_2$/Si interface

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Martins, Maria M., Kumar, Piyush, Bathen, Marianne E., Salman, Zaher, Grossner, Ulrike, Prokscha, Thomas
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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