Real-space tilting method for atomic resolution STEM imaging of nanocrystalline materials

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Wei, Jiake, Xu, Zhangze, Shen, Wenjie, Feng, Bin, Ishikawa, Ryo, Shibata, Naoya, Ikuhara, Yuichi, Bai, Xuedong
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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