Design of reliable technology valuation model with calibrated machine learning of patent indicators

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Lee, Seunghyun, Yoon, Janghyeok, Choi, Jaewoong
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
Schlagworte:
Online-Zugang:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!