Anomaly Multi-classification in Industrial Scenarios: Transferring Few-shot Learning to a New Task

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Liu, Jie, Wu, Yao, Luo, Xiaotong, Wu, Zongze
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2406.05645