Zuo, Y., Gerdes, K., de La Clergerie, E. V., & Sagot, B. (2024). PatentEval: Understanding Errors in Patent Generation.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Zuo, You, Kim Gerdes, Eric Villemonte de La Clergerie, und Benoît Sagot. PatentEval: Understanding Errors in Patent Generation. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Zuo, You, et al. PatentEval: Understanding Errors in Patent Generation. 2024.
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