A Comprehensive Survey on Machine Learning Driven Material Defect Detection

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Bai, Jun, Wu, Di, Shelley, Tristan, Schubel, Peter, Twine, David, Russell, John, Zeng, Xuesen, Zhang, Ji
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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