Investigation of Q degradation in low-loss Si3N4 from heterogeneous laser integration

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Guo, Joel, Xiang, Chao, Jin, Warren, Peters, Jonathan, Li, Mingxiao, Morin, Theodore, Xia, Yu, Bowers, John E.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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