Trustworthy Artificial Intelligence in the Context of Metrology

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Adel, Tameem, Bilson, Sam, Levene, Mark, Thompson, Andrew
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2406.10117