Chen, J., Willis, S. A., & Flannigan, D. J. (2024). Relative Time-of-Flight Measurement in an Ultrafast Electron Microscope.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Chen, Jialiang, Simon A. Willis, e David J. Flannigan. Relative Time-of-Flight Measurement in an Ultrafast Electron Microscope. 2024.
Citatione MLA (9a ed.)Chen, Jialiang, et al. Relative Time-of-Flight Measurement in an Ultrafast Electron Microscope. 2024.
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.