AEM: Attention Entropy Maximization for Multiple Instance Learning based Whole Slide Image Classification

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Zhang, Yunlong, Li, Honglin, Sun, Yunxuan, Shui, Zhongyi, Li, Jingxiong, Zhu, Chenglu, Yang, Lin
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2406.15303