Dunn, E. J., Young, R. J., & Jarvis, S. P. (2024). Single atom chemical identification of TMD defects in ambient conditions.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Dunn, Edward Juan, Robert James Young, und Samuel Paul Jarvis. Single Atom Chemical Identification of TMD Defects in Ambient Conditions. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Dunn, Edward Juan, et al. Single Atom Chemical Identification of TMD Defects in Ambient Conditions. 2024.
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