μ-Bench: A Vision-Language Benchmark for Microscopy Understanding

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Lozano, Alejandro, Nirschl, Jeffrey, Burgess, James, Gupte, Sanket Rajan, Zhang, Yuhui, Unell, Alyssa, Yeung-Levy, Serena
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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Beschreibung
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