Trikarenos: Design and Experimental Characterization of a Fault-Tolerant 28nm RISC-V-based SoC

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Rogenmoser, Michael, Wiese, Philip, Forlin, Bruno Endres, Gürkaynak, Frank K., Rech, Paolo, Menicucci, Alessandra, Ottavi, Marco, Benini, Luca
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Instrumentation and Detectors Hardware Architecture High Energy Physics - Experiment
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2407.05938