Multiparameter admittance spectroscopy for investigating defects in MoS${_2}$ thin film MOSFETs

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Reato, Eros, Esteki, Ardeshir, Ku, Benny, Wang, Zhenxing, Heuken, Michael, Lemme, Max C., Engström, Olof
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2407.07783