Revisiting the Formulation of Charged Defect in Solids

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Shang, Hanzhi, Jiang, Zeyu, Sun, Yiyang, West, Damien, Zhang, Shengbai
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2407.08504