High-Throughput Identification and Statistical Analysis of Atomically Thin Semiconductors

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Crimmann, Juri G., Junker, Moritz N., Glauser, Yannik M., Lassaline, Nolan, Nagamine, Gabriel, Norris, David J.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Mesoscale and Nanoscale Physics Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2407.09228