FabGPT: An Efficient Large Multimodal Model for Complex Wafer Defect Knowledge Queries

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Jiang, Yuqi, Lu, Xudong, Jin, Qian, Sun, Qi, Wu, Hanming, Zhuo, Cheng
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Hardware Architecture Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2407.10810