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TCAD Simulations of Radiation Damage in 4H-SiC

Fuente: arXiv

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Hauptverfasser:	Burin, Jürgen, Hahn, Christopher, Gaggl, Philipp, Gsponer, Andreas, Waid, Simon, Bergauer, Thomas
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Instrumentation and Detectors
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