Distribution-Aware Robust Learning from Long-Tailed Data with Noisy Labels

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Baik, Jae Soon, Yoon, In Young, Kim, Kun Hoon, Choi, Jun Won
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2407.16802