Distribution-Aware Robust Learning from Long-Tailed Data with Noisy Labels

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Baik, Jae Soon, Yoon, In Young, Kim, Kun Hoon, Choi, Jun Won
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2407.16802