Sivakumar, N. S., Aretz, J., Scherb, S., Mavrič, M. v. M., Huijgen, N., Kamber, U., . . . Hauptmann, N. (2024). Influence of surface relaxations on scanning probe microscopy images of the charge density wave material 2H-NbSe$_2$.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sivakumar, Nikhil S., et al. Influence of Surface Relaxations on Scanning Probe Microscopy Images of the Charge Density Wave Material 2H-NbSe$_2$. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sivakumar, Nikhil S., et al. Influence of Surface Relaxations on Scanning Probe Microscopy Images of the Charge Density Wave Material 2H-NbSe$_2$. 2024.
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