Time performance of Analog Pixel Test Structures with in-chip operational amplifier implemented in 65 nm CMOS imaging process

Fuente: arXiv

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Rinella, Gianluca Aglieri, Aglietta, Luca, Antonelli, Matias, Barile, Francesco, Benotto, Franco, Beolè, Stefania Maria, Botta, Elena, Bruno, Giuseppe Eugenio, Carnesecchi, Francesca, Colella, Domenico, Colelli, Angelo, Contin, Giacomo, De Robertis, Giuseppe, Dumitrache, Florina, Elia, Domenico, Ferrero, Chiara, Fransen, Martin, Kluge, Alex, Kumar, Shyam, Lemoine, Corentin, Licciulli, Francesco, Lim, Bong-Hwi, Loddo, Flavio, Mager, Magnus, Marras, Davide, Martinengo, Paolo, Pastore, Cosimo, Patra, Rajendra Nath, Perciballi, Stefania, Piro, Francesco, Prino, Francesco, Ramello, Luciano, Ramos, Arianna Grisel Torres, Reidt, Felix, Russo, Roberto, Sarritzu, Valerio, Savino, Umberto, Schledewitz, David, Selina, Mariia, Senyukov, Serhiy, Sitta, Mario, Snoeys, Walter, Sonneveld, Jory, Suljic, Miljenko, Triloki, Triloki, Turcato, Andrea
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2024
Soggetti:	Instrumentation and Detectors
Accesso online:	Acceder al recurso
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