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Improving the Accuracy of Temperature Measurement on TEM samples using Plasmon Energy Expansion Thermometry (PEET): Addressing Sample Thickness Effects

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yang, Yi-Chieh, Serafin, Luca, Gauquelin, Nicolas, Verbeeck, Johan, Jinschek, Joerg R.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Materials Science Instrumentation and Detectors
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