Invariant Discovery of Features Across Multiple Length Scales: Applications in Microscopy and Autonomous Materials Characterization

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Raghavan, Aditya, Pratiush, Utkarsh, Valleti, Mani, Liu, Richard, Emery, Reece, Funakubo, Hiroshi, Liu, Yongtao, Rack, Philip, Kalinin, Sergei
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computational Physics Materials Science Machine Learning Applied Physics
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https://arxiv.org/abs/2408.00229