Scientific Exploration with Expert Knowledge (SEEK) in Autonomous Scanning Probe Microscopy with Active Learning

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Pratiush, Utkarsh, Funakubo, Hiroshi, Vasudevan, Rama, Kalinin, Sergei V., Liu, Yongtao
Format: Preprint
Publié: 2024
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