Patterning of Fine Features on Material Surfaces Using a Ga Ion-Beam in a FIB-SEM
Fuente:
arXiv
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Preprint |
| Veröffentlicht: |
2024
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | |
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