Wang, Z., Liu, K., Li, G., & Jin, Z. (2024). HITS: High-coverage LLM-based Unit Test Generation via Method Slicing.
Style de citation Chicago (17e éd.)Wang, Zejun, Kaibo Liu, Ge Li, et Zhi Jin. HITS: High-coverage LLM-based Unit Test Generation via Method Slicing. 2024.
Style de citation MLA (9e éd.)Wang, Zejun, et al. HITS: High-coverage LLM-based Unit Test Generation via Method Slicing. 2024.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.