Examinees' Rapid-Guessing Patterns in Computerized Adaptive Testing for Interim Assessment: From Hierarchical Clustering

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kaptur, Dandan Chen, Patton, Elizabeth, Rome, Logan
Formato: Preprint
Publicado: 2024
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!