Examinees' Rapid-Guessing Patterns in Computerized Adaptive Testing for Interim Assessment: From Hierarchical Clustering

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Kaptur, Dandan Chen, Patton, Elizabeth, Rome, Logan
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Applications
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2408.11716