As Biased as You Measure: Methodological Pitfalls of Bias Evaluations in Speaker Verification Research

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Hutiri, Wiebke, Patel, Tanvina, Ding, Aaron Yi, Scharenborg, Odette
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Audio and Speech Processing Computers and Society
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2408.13614