In-situ scanning gate imaging of individual two-level material defects in live superconducting quantum circuits

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hegedüs, M., Banerjee, R., Hutcheson, A., Barker, T., Mahashabde, S., Danilov, A. V., Kubatkin, S. E., Antonov, V., de Graaf, S. E.
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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