Toward a universal characterization methodology for conversion gain measurement of CMOS APS: application to Euclid and SVOM

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Graët, Jean Le, Secroun, Aurélia, Tourneur-Silvain, Marie, Kajfasz, Éric, Atteia, Jean-Luc, Boulade, Olivier, de la Flèche, Alix Nouvel, Geoffray, Hervé, Gillard, William, Escoffier, Stéphanie, Fortin, Francis, Fourmanoit, Nicolas, Kermiche, Smaïn, Valentin, Hervé, Zoubian, Julien
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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