Liu, Q., Hu, Z., Yuan, H., & Yang, Y. (2024). Fully-Optimized Quantum Metrology: Framework, Tools, and Applications.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Liu, Qiushi, Zihao Hu, Haidong Yuan, und Yuxiang Yang. Fully-Optimized Quantum Metrology: Framework, Tools, and Applications. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Liu, Qiushi, et al. Fully-Optimized Quantum Metrology: Framework, Tools, and Applications. 2024.
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