Comparison of Impedance Matching Networks for Scanning Microwave Microscopy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Hoffmann, Johannes, de Preville, Sophie, Eckmann, Bruno, Lin, Hung-Ju, Herzog, Benedikt, Haddadi, Kamel, Theron, Didier, Gramse, Georg, Richert, Damien, Moran-Meza, Jose, Piquemal, Francois
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Instrumentation and Detectors
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2409.11207