Precise structure and polarization determination of Hf0.5Zr0.5O2 with electron ptychography

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Gao1, Xiaoyue, Liu, Zhuohui, Han, Bo, Zhang, Xiaowen, Mao, Ruilin, Shi, Ruochen, Zhu, Ruixue, Lu, Jiangbo, Wang, Tao, Ge, Chen, Gao, Peng
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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