Deep learning for fast segmentation and critical dimension metrology & characterization enabling AR/VR design and fabrication
Fuente:
arXiv
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Preprint |
| Veröffentlicht: |
2024
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | |
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