Deep Learning Techniques for Automatic Lateral X-ray Cephalometric Landmark Detection: Is the Problem Solved?

Fuente: arXiv

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Auteurs principaux:	Zhang, Hongyuan, Wang, Ching-Wei, Muzakky, Hikam, Dai, Juan, Li, Xuguang, Ma, Chenglong, Wu, Qian, Cui, Xianan, Xu, Kunlun, He, Pengfei, Guo, Dongqian, Wang, Xianlong, Lee, Hyunseok, Zhong, Zhangnan, Zhu, Zhu, Huang, Bingsheng
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2409.15834