Size Effect on Raman Measured Stress and Strain Induced Phonon Shifts in Ultra-Thin Film Silicon

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Pashartis, Christopher, van Setten, Michiel J., Pourtois, Geoffrey
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2409.16188