Deep-Learning Recognition of Scanning Transmission Electron Microscopy: Quantifying and Mitigating the Influence of Gaussian Noises

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Zhang, Hanlei, Bai, Jincheng, Chen, Xiabo, Li, Can, Zhong, Chuanjian, Fang, Jiye, Zhou, Guangwen
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Image and Video Processing Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2409.16637