Defect detection and size classification in CdTe samples in 3D

Fuente: arXiv

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Väänänen, M., Kalliokoski, M., Turpeinen, R., Bezak, M., Luukka, P., Karjalainen, A., Karadzhinova-Ferrer, A.
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2024
Soggetti:	Instrumentation and Detectors
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Accesso online

https://arxiv.org/abs/2409.18555