Measuring vacancy-type defect density in monolayer semiconductors

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Radic, Aleksandar, von Jeinsen, Nick, Perez, Vivian, Wang, Ke, Lin, Min, Liu, Boyao, Zhu, Yiru, Sami, Ismail, Watanabe, Kenji, Taniguchi, Takashi, Ward, David, Jardine, Andrew, Rao, Akshay, Chhowalla, Manish, Lambrick, Sam
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Applied Physics Materials Science
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