Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials

Fuente: arXiv

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autori principali:	von Jeinsen, Nick, Radic, Aleksandar, Wang, Ke, Zhao, Chenyang, Perez, Vivian, Zhu, Yiru, Chhowalla, Manish, Jardine, Andrew, Ward, David, Lambrick, Sam
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2024
Soggetti:	Applied Physics Materials Science
Accesso online:	Acceder al recurso
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

Accesso online

https://arxiv.org/abs/2409.20461