Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	von Jeinsen, Nick, Radic, Aleksandar, Wang, Ke, Zhao, Chenyang, Perez, Vivian, Zhu, Yiru, Chhowalla, Manish, Jardine, Andrew, Ward, David, Lambrick, Sam
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Applied Physics Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2409.20461