Triplet Exciton Sensitization of Silicon Mediated by Defect States in Hafnium Oxynitride

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Nagaya, Narumi, Alexiu, Alexandra, Perkinson, Collin F., Nix, Oliver M., Bawendi, Moungi G., Tisdale, William A., Van Voorhis, Troy, Baldo, Marc A.
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2024
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