Towards the Best Solution for Complex System Reliability: Can Statistics Outperform Machine Learning?

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Gamiz, Maria Luz, Navas-Gomez, Fernando, Nozal-Cañadas, Rafael, Raya-Miranda, Rocio
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Machine Learning 62N05, 68T05 G.3; I.2.6
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2410.04238