DAAL: Density-Aware Adaptive Line Margin Loss for Multi-Modal Deep Metric Learning

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Gebrerufael, Hadush Hailu, Tiwari, Anil Kumar, Neupane, Gaurav, Hailu, Goitom Ybrah
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2410.05438