Adaptive, symmetry-informed Bayesian metrology for precise quantum technology measurements

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Overton, Matt, Rubio, Jesús, Cooper, Nathan, Baldolini, Daniele, Johnson, David, Anders, Janet, Hackermüller, Lucia
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Quantum Physics Atomic Physics Data Analysis, Statistics and Probability
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https://arxiv.org/abs/2410.10615