Tracking solid oxide cell electrode microstructural evolution during annealing by scanning 3D X-ray diffraction microscopy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Shukla, A., De Angelis, S., Wright, J., Zhang, Y., Oddershede, J., Poulsen, H. F., Andreasen, J. W.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2410.10671