Mechanism of $E'_γ$ Defect Generation in Ionizing-irradiated $a$-SiO$_2$: The Nonradiative Carrier Capture-Structural Relaxation Model
Fuente:
arXiv
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Preprint |
| Veröffentlicht: |
2024
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Keine Beschreibung verfügbar. |