Integrating Artificial Intelligence Models and Synthetic Image Data for Enhanced Asset Inspection and Defect Identification

Fuente: arXiv

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Mandati, Reddy, Anderson, Vladyslav, Chen, Po-chen, Agarwal, Ankush, Dokic, Tatjana, Barnard, David, Finn, Michael, Cromer, Jesse, Mccauley, Andrew, Tutaj, Clay, Dave, Neha, Besharati, Bobby, Barnett, Jamie, Krall, Timothy
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2024
Soggetti:	Computer Vision and Pattern Recognition Machine Learning
Accesso online:	Acceder al recurso
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

Accesso online

https://arxiv.org/abs/2410.11967