On the Influence of Parallax Effects in Thick Silicon Sensors in Coherent Diffraction Imaging

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Kuster, Markus, Hartmann, Robert, Hauf, Steffen, Holl, Peter, Rüter, Tonn, Strüder, Lothar
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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