If LLMs Would Just Look: Simple Line-by-line Checking Improves Vulnerability Localization

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Li, Yue, Li, Xiao, Wu, Hao, Zhang, Yue, Cheng, Xiuzhen, Liu, Yating, Xu, Fengyuan, Zhong, Sheng
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Cryptography and Security
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2410.15288