Patra, S., & Taieb, S. B. (2024). Revisiting Deep Feature Reconstruction for Logical and Structural Industrial Anomaly Detection.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Patra, Sukanya, und Souhaib Ben Taieb. Revisiting Deep Feature Reconstruction for Logical and Structural Industrial Anomaly Detection. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Patra, Sukanya, und Souhaib Ben Taieb. Revisiting Deep Feature Reconstruction for Logical and Structural Industrial Anomaly Detection. 2024.
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